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小物・薄板の精密板金加工、試作加工 （有）長井技研 山形県長井市の町工場
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JIS B0251 メートルねじ用限界ゲージ JIS B0255 ユニファイねじ用限界ゲージ JIS B0253 管用テーパねじゲージ JIS B0254 管用平行ねじゲージ JIS B0261 平行ねじゲージ−測定方法 JIS B0262 テーパねじゲージの検査方法 JIS B3102 ねじ用限界ゲージの形状及び寸法 JIS B7420 限界プレーンゲージ JIS B3301 モールステーパゲージ JIS B0271 ねじ測定用三針及びねじ測定用四針
JIS B7506 ブロックゲージ JIS B7541 標準尺 JIS B7545 テストバー JIS B7503 ダイヤルゲージ JIS B7533 てこ式ダイヤルゲージ JIS B7519 指針測微器 JIS B7515 シリンダゲージ JIS B7502 マイクロメータ JIS B7520 指示マイクロメータ JIS B7544 デプスマイクロメータ JIS B7507 ノギス JIS B7531 歯厚ノギス JIS B7517 ハイトゲージ JIS B7518 デプスゲージ JIS B7524 すきまゲージ JIS B7535 流量式空気マイクロメータ JIS B7536 電気マイクロメータ JIS B7153 測定顕微鏡 JIS B7516 金属製直尺 JIS B7534 金属製角度直尺 JIS B7512 鋼製巻尺 JIS B7522 繊維製巻尺 JIS B7450 ディジタルスケール JIS B7440-1 製品の幾何特性仕様（GPS）−座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査−第1部：用語 JIS B7440-2 製品の幾何特性仕様（GPS）−座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査−第2部：寸法測定 JIS B7440-3 製品の幾何特性仕様（GPS）−座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査−第3部：ロータリテーブル付き座標測定機 JIS B7440-4 製品の幾何特性仕様（GPS）−座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査−第4部：スキャニング測定 JIS B7440-5 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）−座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査−第５部：マルチスタイラス測定 JIS B7440-6 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）−座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査−第６部：ソフトウェア検査 JIS K6895 四ふっ化エチレン樹脂製品の寸法測定方法 JIS K7130 プラスチック−フィルム及びシート−厚さ測定方法
JIS B7510 精密水準器 JIS B7523 サインバー JIS B7538 オートコリメータ JIS B7540 Ｖブロック JIS B7432 角度標準用多面鏡
JIS B0659-1 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式；測定標準−第1部：標準片 JIS B0601 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−用語，定義及び表面性状パラメータ JIS B0610 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−転がり円うねりの定義及び表示 JIS B0631 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−モチーフパラメータ JIS B0632 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−位相補償フィルタの特性 JIS B0633 製品の幾何特性仕様 (GPS)−表面性状：輪郭曲線方式−表面性状評価の方式及び手順 JIS B0651 製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状：輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の特性 JIS B0652 光波干渉式表面粗さ測定器 JIS B0670 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の校正 JIS B0671-1 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式；プラトー構造表面の特性評価−第1部：フィルタ処理及び測定条件 JIS B0671-2 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式；プラトー構造表面の特性評価−第2部：線形表現の負荷曲線による高さの特性評価 JIS B0671-3 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式；プラトー構造表面の特性評価−第3部：正規確率紙上の負荷曲線による高さの特性評価 JIS B7513 精密定盤 JIS B7514 直定規 JIS B7526 直角定規 JIS B7539 円筒スコヤ JIS B7430 オプチカルフラット JIS B7431 オプチカルパラレル JIS B7184 測定投影機 JIS B7433 ニュートンゲージ JIS B7451 真円度測定機 TR B0003 製図―幾何公差表示方式―形状，姿勢，位置及び振れの公差方式―検証の原理と方法の指針
JIS B0401-1 寸法公差及びはめあいの方式―第１部：公差，寸法差及びはめあいの基礎 JIS B0401-2 寸法公差及びはめあいの方式―第２部：穴及び軸の公差等級並びに寸法許容差の表 JIS B0405 普通公差−第1部：個々に公差の指示がない長さ寸法及び角度寸法に対する公差 JIS B0419 普通公差−第2部：個々に公差の指示がない形体に対する幾何公差 JIS B0621 幾何偏差の定義及び表示 JIS B0021 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）−幾何公差表示方式−形状，姿勢，位置及び振れの公差表示方式 JIS B0022 幾何公差のためのデータム JIS B0023 製図−幾何公差表示方式−最大実体公差方式及び最小実体公差方式 JIS B0025 製図―幾何公差表示方式―位置度公差方式 JIS B0026 製図―寸法及び公差の表示方式―非剛性部品 JIS B0612 製品の幾何特性仕様 (GPS) −円すいのテーパ比及びテーパ角度の基準値 JIS B0614 円すい公差方式 JIS B0616 円すいはめあい方式 JIS B0615 製品の幾何特性仕様 (GPS) −プリズムの角度及びこう配の基準値 JIS B0641-1 製品の幾何特性仕様 (GPS) −製品及び測定装置の測定による検査−第1部：仕様に対する合否判定基準 JIS B0672-1 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）−形体−第１部：一般用語及び定義 JIS B0672-2 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）−形体−第２部：円筒及び円すいの測得中心線，測得中心面並びに測得形体の局部寸法
JIS Z8103 計測用語 JIS Z8401 数値の丸め方 JIS Z8601 標準数 JIS Z8703 試験場所の標準状態 JIS規格リスト一覧に戻る >> 資料館（JISリスト） >> 機械計測 >> 資料館（JISリスト2） |
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