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小物・薄板の精密板金加工、試作加工 （有）長井技研 山形県長井市の町工場
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資料館（JISリスト） >> 電子 >> 資料館（JISリスト2） |
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JIS C0025 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法 JIS C0099 環境試験方法－電気・電子－鉛フリーソルダペーストを用いた表面実装部品（ＳＭＤ）のはんだ付け性試験方法－平衡法 JIS C5070 表面実装技術－表面実装部品 (SMD) の輸送及び保管条件－指針 JIS C60068-1 環境試験方法－電気・電子－通則 JIS C60068-2-1 環境試験方法－電気・電子－低温（耐寒性）試験方法 JIS C60068-2-2 環境試験方法－電気・電子－高温（耐熱性）－試験方法 JIS C60068-2-3 環境試験方法（電気・電子）高温高湿（定常）試験方法 JIS C60068-2-6 環境試験方法－電気・電子－正弦波振動試験方法 JIS C60068-2-7 環境試験方法－電気・電子－加速度（定常）試験方法 JIS C60068-2-11 環境試験方法（電気・電子）塩水噴霧試験方法 JIS C60068-2-13 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法 JIS C60068-2-17 環境試験方法－電気・電子－封止（気密性）試験方法 JIS C60068-2-18 環境試験方法－電気・電子－耐水性試験及び指針 JIS C60068-2-20 環境試験方法－電気・電子－はんだ付け試験方法 JIS C60068-2-21 環境試験方法－電気・電子－端子強度試験方法 JIS C60068-2-27 環境試験方法－電気・電子－衝撃試験方法 JIS C60068-2-29 環境試験方法－電気・電子－バンプ試験方法 JIS C60068-2-30 環境試験方法（電気・電子）温湿度サイクル（１２＋１２時間サイクル）試験方法 JIS C60068-2-31 環境試験方法－電気・電子－面落下，角落下及び転倒（主として機器）試験方法 JIS C60068-2-32 環境試験方法－電気・電子－自然落下試験方法 JIS C60068-2-38 環境試験方法（電気・電子）温湿度組合せ（サイクル）試験方法 JIS C60068-2-39 環境試験方法－電気・電子－第２－３９部：低温，減圧及び高温高湿一連複合試験 JIS C60068-2-40 環境試験方法－電気・電子－低温・減圧複合試験方法 JIS C60068-2-41 環境試験方法－電気・電子－高温・減圧複合試験方法 JIS C60068-2-42 環境試験方法－電気・電子－接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法 JIS C60068-2-43 環境試験方法－電気・電子－接点及び接続部の硫化水素試験方法 JIS C60068-2-45 環境試験方法―電気・電子―耐溶剤性（洗浄溶剤浸せき）試験方法 JIS C60068-2-46 環境試験方法－電気・電子－接点及び接続部の硫化水素試験－指針 JIS C60068-2-47 環境試験方法－電気・電子－動的試験での供試品の取付方法 JIS C60068-2-48 環境試験方法－電気・電子－第２－４８部：保存の影響をシミュレートするために，環境試験方法に関するJIS 規格群の試験を適用する場合の指針 JIS C60068-2-49 環境試験方法－電気・電子－接点及び接続部の二酸化硫黄試験－指針 JIS C60068-2-50 環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温／振動（正弦波）複合試験 JIS C60068-2-51 環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温／振動（正弦波）複合試験 JIS C60068-2-52 環境試験方法－電気・電子－塩水噴霧（サイクル）試験方法（塩化ナトリウム水溶液） JIS C60068-2-53 環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温・高温／振動（正弦波）複合試験の指針 JIS C60068-2-54 環境試験方法－電気・電子－はんだ付け試験方法（平衡法） JIS C60068-2-57 環境試験方法－電気・電子－時刻歴振動試験方法 JIS C60068-2-58 環境試験方法―電気・電子―表面実装部品（ＳＭＤ）のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法 JIS C60068-2-59 環境試験方法－電気・電子－サインビート振動試験方法 JIS C60068-2-60 環境試験方法－電気・電子－混合ガス流腐食試験 JIS C60068-2-61 環境試験方法－電気・電子－一連耐候性試験 JIS C60068-2-64 環境試験方法―電気・電子―広帯域ランダム振動試験方法及び指針 JIS C60068-2-66 環境試験方法－電気・電子－高温高湿，定常（不飽和加圧水蒸気） JIS C60068-2-67 環境試験方法－電気・電子－基本的に構成部品を対象とした高温高湿，定常状態の促進試験 JIS C60068-2-68 環境試験方法－電気・電子－砂じん（塵）試験 JIS C60068-2-75 環境試験方法－電気・電子－第２－７５部：ハンマ試験 JIS C60068-2-77 環境試験方法－電気・電子－表面実装部品（ＳＭＤ）の本体強度及び耐衝撃性試験方法 JIS C60068-2-78 環境試験方法－電気・電子－第２－７８部：高温高湿（定常）試験方法 JIS C60068-3-1 環境試験方法－電気・電子－低温試験及び高温試験を理解するための必す（須）情報 JIS C60068-3-2 環境試験方法－電気・電子－第３－２部：温度／減圧複合試験を理解するための必す（須）情報 JIS C60068-3-3 環境試験方法－電気・電子－機器の耐震試験方法の指針 JIS C60068-3-4 環境試験方法－電気・電子－第３－４部：高温高湿試験の指針 JIS C60068-3-5 環境試験方法―電気・電子―第３―５部：温度試験槽の性能確認の指針 JIS C60355 環境試験方法－電気・電子－大気腐食に対する加速試験－指針
JIS C60721-1 環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさの分類 JIS C60721-2-1 環境条件の分類 自然環境の条件－温度及び湿度 JIS C60721-2-2 環境条件の分類 自然環境の条件－降水及び風 JIS C60721-2-3 環境条件の分類 自然環境の条件―気圧 JIS C60721-2-4 環境条件の分類－自然環境の条件－日射及び温度 JIS C60721-2-5 環境条件の分類－第２－５部：自然環境の条件－じんあい，砂及び塩霧 JIS C60721-3-0 環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 通則 JIS C60721-3-1 環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 保管条件 JIS C60721-3-2 環境条件の分類環境パラメータとその厳しさの分類－輸送条件 JIS C60721-3-3 環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 屋内固定使用の条件 JIS C60721-3-4 環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 屋外固定使用の条件 JIS C60721-3-5 環境条件の分類－第３－５部：環境パラメータとその厳しさのグループ別分類－車載機器の条件 JIS C60721-3-6 環境条件の分類―環境パラメータとその厳しさのグループ別分類―第３―６部：船舶搭載機器の条件 JIS C60721-3-7 環境条件の分類－環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 携帯及び移動使用の条件 JIS C60721-3-9 環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 製品内部の環境条件
JIS C60695-1-1 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験 電気製品の火災危険評価指針－一般指針 JIS C60695-1-2 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験（電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針－電子部品） JIS C60695-1-3 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験（電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針一プリセレクションの用い方） JIS C60695-2-2 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験 ニードルフレーム（注射針バーナ）試験方法 JIS C60695-2-3 環境試験方法（電気・電子）ヒータによる不完全接続耐火性試験方法 JIS C60695-2-4-0 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験 拡散炎及び予混炎試験方法 JIS C60695-2-10 耐火性試験 ―電気・電子―グローワイヤ試験装置及び一般試験方法 JIS C60695-2-11 耐火性試験―電気・電子―最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法 JIS C60695-2-12 耐火性試験―電気・電子―材料に対するグローワイヤ燃焼性試験方法 JIS C60695-2-13 耐火性試験―電気・電子―材料に対するグローワイヤ着火性試験方法 JIS C60695-2-20 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験グローイング/ホットワイヤ試験法：ホットワイヤ巻付け線による材料の着火性試験 JIS C60695-4 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験用語 JIS C60695-5-1 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験 燃焼放出物による腐食損傷の評価－一般事項 JIS C60695-5-2 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験：燃焼放出物による腐食損傷の評価－試験方法の選択及び適用の指針 JIS C60695-6-1 耐火性試験―電気・電子―第６―１部：煙不透過性―一般指針 JIS C60695-6-30 環境試験方法－電気・電子－火災危険，火災のもつ潜在的・偶発的危険の試験方法－火災に遭った電気製品からの煙による光の不透過度に起因する視界のさえぎりの評価に関する指針及び試験方法：小規模静的試験方法－煙による光の不透過度測定－試験装置の記述 JIS C60695-6-31 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験－煙による光の不透過度の測定－小規模静的試験方法－材料 JIS C60695-7-1 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験 電気・電子製品の火災による毒物危険性を最小にするための指針 通則 JIS C60695-8-1 耐火性試験－電気・電子－第８－１部：発熱 －一般指針 JIS C60695-9-1 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験－炎の表面伝ぱ（播）－一般指針 JIS C60695-10-2 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験 ボールプレッシャー試験方法 JIS C60695-10-3 耐火性試験－電気・電子－第１０－３部：異常発生熱－成形応力解放変形試験 JIS C60695-11-2 環境試験方法－電気・電子－耐火性試験 公称１ｋＷ予混試験用炎及び指針 JIS C60695-11-3 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験 公称５００Ｗ試験用炎及び指針 TSC 0034 耐火性試験－電気・電子－発熱－試験方法の概要及び適用性（解説収録） TSC 0035 耐火性試験－電気・電子－炎の表面伝ぱ－試験方法の概要及び適用性（解説収録） TRC 0029 耐火性試験―電気・電子―燃焼放出物の毒性―試験結果の利用及び解釈
JIS C5012 プリント配線板試験方法 JIS C5016 フレキシブルプリント配線板試験方法 JIS C5603 プリント回路用語 JIS C6471 フレキシブルプリント配線板用銅張積層板試験方法 JIS C6481 プリント配線板用銅張積層板試験方法 JIS C6515 プリント配線板用銅はく JIS C6520 多層プリント配線板用プリプレグ通則 JIS C6521 多層プリント配線板用プリプレグ試験方法
JIS C7030 トランジスタ測定方法 JIS C7031 小信号用半導体ダイオード測定方法 JIS C7032 トランジスタ通則
JIS C5860 空間ビーム光用受動部品通則 JIS C5870 干渉フィルタ通則 JIS C5871 干渉フィルタ試験方法 JIS C5872 空間ビーム光用光アイソレータ通則 JIS C5873 空間ビーム光用光アイソレータ試験方法 JIS C5900 光伝送用受動部品通則 JIS C5901 光伝送用受動部品試験方法 JIS C5910 光ブランチングデバイス通則 JIS C5912 波長スイッチ通則 JIS C5914 光サーキュレータ通則 JIS C5916 光伝送用分散補償器通則 JIS C5920 光減衰器通則 JIS C5930 光スイッチ通則 JIS C5931 光スイッチ試験方法 JIS C5932 光伝送用光アイソレータ通則 JIS C5933 光伝送用光アイソレータ試験方法 JIS C5934 光伝送用レンズ通則 JIS C5935 光伝送用レンズ試験方法
JIS C5940 光伝送用半導体レーザ通則 JIS C5941 光伝送用半導体レーザ測定方法 JIS C5942 再生及び記録用半導体レーザ通則 JIS C5943 再生及び記録用半導体レーザ測定方法 JIS C5944 光伝送用半導体レーザモジュール通則 JIS C5945 光伝送用半導体レーザモジュール測定方法 JIS C5946 光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール通則 JIS C5947 光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール測定方法 JIS C5950 光伝送用発光ダイオード通則 JIS C5951 光伝送用発光ダイオード測定方法 JIS C5990 光伝送用フォトダイオード通則 JIS C5991 光伝送用フォトダイオード測定方法
JIS C5961 光ファイバコネクタ試験方法 JIS C5962 光ファイバコネクタ通則 JIS C5963 光ファイバコード付き光コネクタ通則 JIS C5970 Ｆ０１形単心光ファイバコネクタ JIS C5971 Ｆ０２形単心光ファイバコネクタ JIS C5972 Ｆ０３形単心光ファイバコネクタ JIS C5973 Ｆ０４形光ファイバコネクタ JIS C5974 Ｆ０５形単心光ファイバコネクタ JIS C5975 Ｆ０６形単心光ファイバコネクタ JIS C5976 Ｆ０７形２心光ファイバコネクタ JIS C5977 Ｆ０８形２心光ファイバコネクタ JIS C5978 Ｆ０９形単心光ファイバコネクタ JIS C5979 Ｆ１０形単心光ファイバコネクタ JIS C5980 Ｆ１１形光ファイバコネクタ JIS C5981 Ｆ１２形多心光ファイバコネクタ JIS C5982 Ｆ１３形多心光ファイバコネクタ JIS C5983 Ｆ１４形光ファイバコネクタ JIS C5984 Ｆ１５形光ファイバコネクタ JIS C5985 Ｆ１６形光ファイバコネクタ JIS C5987 Ｆ１８形光ファイバコネクタ JIS C5988 Ｆ１９形光ファイバコネクタ
JIS C6110 低速光伝送リンク用送・受信モジュール通則 JIS C6111 低速光伝送リンク用送・受信モジュール測定方法 JIS C6112 中・高速光伝送リンク用送・受信モジュール通則 JIS C6113 中・高速光伝送リンク用送・受信モジュール測定方法 JIS C6114-1 光変調器モジュール通則 JIS C6114-2 光変調器モジュール測定方法 JIS C6115-1 ｐｉｎ―ＦＥＴモジュール通則 JIS C6115-2 ｐｉｎ―ＦＥＴモジュール測定方法
JIS C6820 光ファイバ通則 JIS C6821 光ファイバ機械特性試験方法 JIS C6822 マルチモード光ファイバ構造パラメータ試験方法 JIS C6823 光ファイバ損失試験方法 JIS C6824 マルチモード光ファイバ帯域試験方法 JIS C6825 シングルモード光ファイバ構造パラメータ試験方法 JIS C6827 光ファイバ波長分散試験方法 JIS C6830 光ファイバコード JIS C6831 光ファイバ心線 JIS C6832 石英系マルチモード光ファイバ素線 JIS C6833 多成分系マルチモード光ファイバ素線 JIS C6834 プラスチッククラッドマルチモード光ファイバ素線 JIS C6835 石英系シングルモード光ファイバ素線 JIS C6836 全プラスチックマルチモード光ファイバコード JIS C6837 全プラスチックマルチモード光ファイバ素線 JIS C6838 テープ形光ファイバ心線 JIS C6839 テープ形光ファイバコード JIS C6840 光ファイバ偏波クロストーク試験方法 JIS C6841 光ファイバ心線融着接続方法 JIS C6850 光ファイバケーブル通則 JIS C6851 光ファイバケーブル特性試験方法 JIS C6861 全プラスチックマルチモード光ファイバ機械特性試験方法 JIS C6862 全プラスチックマルチモード光ファイバ構造パラメータ試験方法 JIS C6863 全プラスチックマルチモード光ファイバ損失試験方法 JIS X5150 構内情報配線システム TSC 0017 ビルディング内光配線システム
JIS C6180 レーザ出力測定方法 JIS C6181 レーザ放射パワー及びエネルギー測定用検出器，測定器及び測定装置 JIS C6182 レーザビーム用光パワーメータ試験方法 JIS C6183 光スペクトラムアナライザ試験方法 JIS C6184 光ファイバ用光パワーメータ試験方法 JIS C6185 オプティカル タイム ドメイン リフレクトメータ（ＯＴＤＲ）試験方法 JIS C6186 光ファイバ用光パワーメータ校正方法 JIS C6187 光波長計試験方法 JIS C6188 測定用光減衰器試験方法 JIS C6189 光反射減衰量測定器試験方法 JIS C6190 光ファイバ用光源試験方法 JIS C6191 波長可変光源試験方法 JIS C6828 光ファイバ構造パラメータ測定器校正方法 JIS C6829 光ファイバ波長分散測定器校正方法
JIS C6121 光ファイバ増幅器通則 JIS C6122-1 光ファイバ増幅器－測定方法－第１部：利得パラメータ測定方法 JIS C6122-2 光ファイバ増幅器－測定方法－第２部：パワーパラメータ測定方法 JIS C6122-3 光ファイバ増幅器―測定方法―第３部：雑音指数パラメータ測定方法 JIS C6122-3-2 光増幅器―測定方法―第３―２部：雑音指数パラメータ―電気スペクトラムアナライザ試験方法 JIS C6122-5-1 光ファイバ増幅器―測定方法―第５―１部：光反射率パラメータ測定方法－光スペクトラムアナライザを用いた測定方法 JIS C6122-6 光ファイバ増幅器－測定方法－第６部：漏れ励起光パラメータ測定方法 JIS C6122-7 光ファイバ増幅器－測定方法－第７部：波長帯域外挿入損失測定方法 JIS C6123-1 光増幅器－性能仕様テンプレート－第1部：ディジタル用光ファイバ増幅器 TRC 0021 光ファイバ増幅器―測定方法―第3－1 部：雑音指数パラメータ測定方法―光スペクトラムアナライザ試験方法
JIS X9001 光学式文字認識のための字形（英数字） JIS X9002 磁気インキ文字読取用字体及び印字仕様 (E13B) JIS X9003 光学式文字認識のための字形（片仮名） JIS X9004 光学式文字認識のための印字仕様 JIS X9005 光学式文字認識のための手書き文字（片仮名） JIS X9006 光学式文字認識のための手書き文字（数字） JIS X9007 光学式文字認識のための手書き文字（英字） JIS X9008 光学式文字認識のための手書き文字（記号） JIS X9009 光学式文字認識のための手書き文字（平仮名） JIS X9010 機械読取り可能文字の符号（OCR及びMICR） JIS X9101 POSシステム用OCR値札の寸法及び印刷（印字）仕様
JIS X6241 120mmＤＶＤ－再生専用ディスク JIS X6242 80mmＤＶＤ－再生専用ディスク JIS X6243 120 mm DVD－書換形ディスク(DVD-RAM) JIS X6244 120 mm DVD-RAMディスク用ケース JIS X6245 80mm（1.23GB/面）及び120mm（3.95GB/面）DVD-レコーダブルディスク(DVD-R) JIS X6261 １３０ｍｍ追記形光ディスクカ－トリッジ JIS X6271 １３０ｍｍ書換形光ディスクカートリッジ JIS X6272 90mm書換形及び再生専用形光ディスクカートリッジ JIS X6273 １３０ｍｍ／１．３ＧＢ光ディスクカートリッジ JIS X6274 130mm/2GB光ディスクカートリッジ JIS X6275 90mm/230MB光ディスクカートリッジ JIS X6276 130mm/2.6GB光ディスクカートリッジ JIS X6277 90mm/640MB光ディスクカートリッジ JIS X6278 １３０ｍｍ／５.２ＧＢ―光ディスクカートリッジ JIS X6281 １２０ｍｍ再生専用形光ディスク（ＣＤ―ＲＯＭ） JIS X6291 90mm/1.3GB光ディスクカートリッジ（相変化光記録） JIS X6292 120mm/650MB光ディスクカートリッジ（相変化光記録，PDフォーマット）
JIS C6801 レーザ安全用語 JIS C6802 レーザ製品の安全基準 JIS C6803 レーザ製品の安全―光ファイバ通信システムの安全
JIS C8907 太陽光発電システムの発電電力量推定方法 JIS C8911 二次基準結晶系太陽電池セル JIS C8912 結晶系太陽電池測定用ソーラシミュレータ JIS C8913 結晶系太陽電池セル出力測定方法 JIS C8914 結晶系太陽電池モジュール出力測定方法 JIS C8915 結晶系太陽電池分光感度特性測定方法 JIS C8916 結晶系太陽電池セル・モジュールの出力電圧・出力電流の温度係数測定方法 JIS C8917 結晶系太陽電池モジュールの環境試験方法及び耐久性試験方法 JIS C8918 結晶系太陽電池モジュール JIS C8919 結晶系太陽電池セル・モジュール屋外出力測定方法 JIS C8920 開放電圧による結晶系太陽電池の等価セル温度測定方法 JIS C8931 二次基準アモルファス太陽電池セル JIS C8932 二次基準アモルファス太陽電池サブモジュール JIS C8933 アモルファス太陽電池測定用ソーラシミュレータ JIS C8934 アモルファス太陽電池セル出力測定方法 JIS C8935 アモルファス太陽電池モジュール出力測定方法 JIS C8936 アモルファス太陽電池分光感度特性測定方法 JIS C8937 アモルファス太陽電池出力電圧・出力電流の温度係数測定方法 JIS C8938 アモルファス太陽電池モジュールの環境試験方法及び耐久性試験方法 JIS C8939 アモルファス太陽電池モジュール JIS C8940 アモルファス太陽電池セル・モジュール屋外出力測定方法 JIS C8990 地上設置の結晶シリコン太陽電池(PV)モジュール ― 設計適格性確認及び形式認証のための要求事項 JIS C8991 地上設置の薄膜太陽電池(PV)モジュール ― 設計適格性確認及び形式認証のための要求事項
JIS C0806-1 自動実装用部品のパッケージング－第1部：アキシャルリード線端子部品の連続テープによるパッケージング JIS C0806-2 自動実装用部品のパッケージング－第2部：ラジアルリード線端子部品の連続テープによるパッケージング JIS C0806-3 自動実装用部品のパッケージング－第3部：表面実装部品の連続テープによるパッケージング JIS C0806-6 自動実装部品のパッケージング―第６部：表面実装部品用バルクケースによるパッケージング JIS C0807 バーコード及び二次元シンボルを使用した電子部品用容器包装ラベル JIS C2170 静電気電荷蓄積を防止する固体平面材料の抵抗及び抵抗率試験方法 JIS C5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号 JIS C5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列 JIS C5070 表面実装技術－表面実装部品 (SMD) の輸送及び保管条件－指針 JIS C5602 電子機器用受動部品用語 TRC 0027-1 静電気現象からの電子デバイスの保護―第1 部：一般要求事項 TRC 0027-2 静電気現象からの電子デバイスの保護―第2 部：使用者のための指針 TRC 0036 静電気―測定方法―帯電性の測定
JIS C5101-1 電子機器用固定コンデンサ－第１部：品目別通則 JIS C5101-2 電子機器用固定コンデンサ－第２部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ JIS C5101-2-1 電子機器用固定コンデンサ－第２部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準Ｅ JIS C5101-3 電子機器用固定コンデンサ－第３部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ JIS C5101-3-1 電子機器用固定コンデンサ－第３部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ 評価水準Ｅ JIS C5101-4 電子機器用固定コンデンサ－第４部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ JIS C5101-4-1 電子機器用固定コンデンサ－第４部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ 評価水準Ｅ JIS C5101-4-2 電子機器用固定コンデンサ－第４部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ 評価水準Ｅ JIS C5101-8 電子機器用固定コンデンサ－第８部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類１ JIS C5101-8-1 電子機器用固定コンデンサ－第８部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類１ 評価水準Ｅ JIS C5101-9 電子機器用固定コンデンサ－第９部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類２ JIS C5101-9-1 電子機器用固定コンデンサ－第９部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類２ 評価水準Ｅ JIS C5101-11 電子機器用固定コンデンサ－第１１部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ JIS C5101-11-1 電子機器用固定コンデンサ－第１１部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準Ｅ JIS C5101-13 電子機器用固定コンデンサ－第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ JIS C5101-13-1 電子機器用固定コンデンサ－第13部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準E JIS C5101-14 電子機器用固定コンデンサ－第１４部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ JIS C5101-14-1 電子機器用固定コンデンサ－第１４部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準Ｄ JIS C5101-15 電子機器用固定コンデンサ－第１５部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ JIS C5101-15-1 電子機器用固定コンデンサ－第１５部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準Ｅ JIS C5101-15-2 電子機器用固定コンデンサ－第１５部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準Ｅ JIS C5101-15-3 電子機器用固定コンデンサ－第１５部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準Ｅ JIS C5101-16 電子機器用固定コンデンサ－第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ JIS C5101-16-1 電子機器用固定コンデンサ－第16部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ 評価水準E JIS C5101-17 電子機器用固定コンデンサ－第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ JIS C5101-17-1 電子機器用固定コンデンサ－第17部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ 評価水準E JIS C5101-18 電子機器用固定コンデンサ－第18部：品種別通則：固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解チップコンデンサ JIS C5101-18-1 電子機器用固定コンデンサ－第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解チップコンデンサ 評価水準E JIS C5101-18-2 電子機器用固定コンデンサ－第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ 評価水準E JIS C5101-20 電子機器用固定コンデンサ－第20部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ直流コンデンサ JIS C5101-20-1 電子機器用固定コンデンサ－第20部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ直流コンデンサ 評価水準EZ JIS C5101-21 電子機器用固定コンデンサ―第２１部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類１ JIS C5101-21-1 電子機器用固定コンデンサ―第２１―１部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類１ 評価水準ＥＺ JIS C5101-22 電子機器用固定コンデンサ―第２２部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類２ JIS C5101-22-1 電子機器用固定コンデンサ―第２２―１部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類２ 評価水準ＥＺ JIS C6462 電子機器用可変コンデンサの試験方法
JIS C5201-1 電子機器用固定抵抗器－第１部：品目別通則 JIS C5201-2 電子機器用固定抵抗器－第２部：品種別通則：低電力非巻線固定抵抗器 JIS C5201-2-1 電子機器用固定抵抗器－第２部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器 評価水準Ｅ JIS C5201-2-2 電子機器用固定抵抗器－第２部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器 評価水準Ｆ JIS C5201-4 電子機器用固定抵抗器－第４部：品種別通則：電力形固定抵抗器 JIS C5201-4-1 電子機器用固定抵抗器－第４部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器 評価水準Ｅ JIS C5201-4-2 電子機器用固定抵抗器－第４部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器 評価水準Ｆ JIS C5201-4-3 電子機器用固定抵抗器－第４部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器，ヒートシンク付き 評価水準Ｈ JIS C5201-5 電子機器用固定抵抗器－第５部：品種別通則：精密級固定抵抗器 JIS C5201-5-1 電子機器用固定抵抗器－第５部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器 評価水準Ｅ JIS C5201-5-2 電子機器用固定抵抗器－第５部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器 評価水準Ｆ JIS C5201-6 電子機器用固定抵抗器－第6部：品種別通則：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 JIS C5201-6-1 電子機器用固定抵抗器－第6部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及び同一定格電力 評価水準E JIS C5201-6-2 電子機器用固定抵抗器－第6部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 異種抵抗値又は異種定格電力 評価水準E JIS C5201-8 電子機器用固定抵抗器－第８部：品種別通則：チップ固定抵抗器 JIS C5201-8-1 電子機器用固定抵抗器－第８部：ブランク個別規格：チップ固定抵抗器 評価水準Ｅ JIS C5201-9 電子機器用固定抵抗器―第９部：品種別通則：個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器 JIS C5201-9-1 電子機器用固定抵抗器―第９―１部：ブランク個別規格：個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器―評価水準ＥＺ JIS C5260-1 電子機器用可変抵抗器－第1部：品目別通則 JIS C5260-2 電子機器用可変抵抗器－第2部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 JIS C5260-2-1 電子機器用可変抵抗器－第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E JIS C5260-2-2 電子機器用可変抵抗器－第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F JIS C5260-3 電子機器用可変抵抗器－第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器 JIS C5260-3-1 電子機器用可変抵抗器－第3部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準E JIS C5260-4 電子機器用可変抵抗器－第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器 JIS C5260-4-1 電子機器用可変抵抗器－第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準E JIS C5260-4-2 電子機器用可変抵抗器－第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準F JIS C5260-5 電子機器用可変抵抗器－第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 JIS C5260-5-1 電子機器用可変抵抗器－第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E JIS C5260-5-2 電子機器用可変抵抗器－第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F JIS C2570-1 直熱形ＮＴＣサーミスタ―第１部：通則
JIS C6701 水晶振動子通則 JIS C6703 水晶フィルタ通則 JIS C6704 人工水晶 JIS C6710 水晶発振器品目別通則
JIS C2514 E形フェライト磁心 JIS C2516 ポット形フェライト磁心 JIS C2569 リング形フェライト磁心 JIS C5310 電子機器用電源変圧器品目別通則 JIS C6436 電子機器用小形電源変圧器 JIS C5320 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 JIS C5311 電子機器用電源変圧器試験方法 JIS C5321 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 JIS C6435 低周波変成器及びコイル試験方法 JIS C62024-1 高周波誘導部品―電気的特性及び測定方法―第１部：ナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ JIS C62025-1 高周波誘導部品―非電気特性及び測定方法―第１部：電子機器及び通信機器用表面実装固定インダクタ
JIS C5401 電子機器用コネクタ通則 JIS C5401-1 電子機器用コネクタ－第１部：品目別通則－能力認証 JIS C5401-2 電子機器用コネクタ－第２部：品種別通則－丸形コネクタ－品質評価付 JIS C5401-2-001 電子機器用コネクタ―第２―００１部：丸形コネクタ―品質評価付―ブランク個別規格 JIS C5401-3 電子機器用コネクタ－第３部：品種別通則－角形コネクタ－品質評価付 JIS C5401-3-001 電子機器用コネクタ－第３－００１部：角形コネクタ－品質評価付－ブランク個別規格 JIS C5401-4 電子機器用コネクタ－第４部：品種別通則－プリント配線板用コネクタ－品質評価付 JIS C5401-4-001 電子機器用コネクタ－第４－００１部：プリント配線板用コネクタ－品質評価付－ブランク個別規格 JIS C5402 電子機器用コネクタ試験方法 JIS C5402-1 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第1部：一般 JIS C5402-1-1 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１部：一般試験－試験１ａ：外観 JIS C5402-1-2 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－２部：一般試験－試験１ｂ：寸法及び質量 JIS C5402-1-3 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第1-3部：一般検査－試験1c：電気的接触長 JIS C5402-1-4 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第1-4部：一般検査－試験1d：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ） JIS C5402-1-100 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１００部：一般－試験一覧 JIS C5402-2-1 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－１部：導通及び接触抵抗試験－試験２ａ：接触抵抗－ミリボルトレベル法 JIS C5402-2-2 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－２部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｂ：接触抵抗－規定電流法 JIS C5402-2-3 電子機器用コネクタ―試験及び測定－第２－３部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｃ：接触抵抗の変動 JIS C5402-2-5 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－５部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｅ：コンタクトディスターバンス JIS C5402-2-6 電子機器用コネクタ―試験及び測定－第２－６部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｆ：ハウジング（シェル）の導通性 JIS C5402-3-1 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第３－１部：絶縁試験－試験３ａ：絶縁抵抗 JIS C5402-4-1 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第４－１部：電圧ストレス試験－試験４ａ：耐電圧 JIS C5402-4-2 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第４－２部：電圧ストレス試験－試験４ｂ：部分放電 JIS C5402-4-3 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第４－３部：電圧ストレス試験－試験４ｃ：耐電圧（絶縁被覆付クリンプバレル） JIS C5402-5-1 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第５－１部：電流容量試験－試験５ａ：温度上昇 JIS C5402-5-2 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第５－２部：電流容量試験－試験５ｂ：電流・温度の軽減 JIS C5402-6-1 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第６－１部：動的ストレス試験－試験６ａ：加速度（定常） JIS C5402-6-2 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第６－２部：動的ストレス試験－試験６ｂ：バンプ JIS C5402-6-3 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第６－３部：動的ストレス試験－試験６ｃ：衝撃 JIS C5402-6-4 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第６－４部：動的ストレス試験－試験６ｄ：正弦波振動 JIS C5402-10-4 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１０―４部：インパクト試験（可動形部品），静的負荷試験（固定形部品），耐久試験及び過負荷試験―試験１０ｄ：電気的過負荷（コネクタ） JIS C5402-11-1 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11-1部：耐候性試験－試験11a：一連耐候性 JIS C5402-11-2 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－２部：耐候性試験－試験１１ｂ：低温・減圧・湿度複合シーケンス JIS C5402-11-3 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－３部：耐候性試験－試験１１ｃ：高温高湿（定常） JIS C5402-11-4 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－４部：耐候性試験－試験１１ｄ：温度急変 JIS C5402-11-5 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－５部：耐候性試験－試験１１ｅ：かびの成長 JIS C5402-11-6 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－６部：耐候性試験－試験１１ｆ：腐食，塩水噴霧 JIS C5402-11-7 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１―７部：耐候性試験―試験１１ｇ：混合ガス流腐食 JIS C5402-11-8 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11-8部：耐候性試験－試験11h：砂じん JIS C5402-11-9 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－９部：耐候性試験－試験１１ｉ：高温 JIS C5402-11-10 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１０部：耐候性試験－試験１１ｊ：低温 JIS C5402-11-11 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１１部：耐候性試験－試験１１ｋ：減圧 JIS C5402-11-12 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１２部：耐候性試験－試験１１ｍ：温湿度サイクル JIS C5402-11-13 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１３部：耐候性試験－試験１１ｎ：ガスタイト・無はんだラッピング接続 JIS C5402-11-14 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１―１４部：耐候性試験―試験１１ｐ：単一ガス流腐食 JIS C5402-12-6 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第12-6部：はんだ付け試験－試験12f : 自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止 JIS C5402-12-7 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１２－７部：はんだ付け試験－試験１２ｇ：はんだ付け性，平衡法 JIS C5402-13-1 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第13-1部：機械的動作試験－試験13a：結合力及び離脱力 JIS C5402-14-7 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第14-7部：封止（気密性）試験－試験14g：噴射水 JIS C5402-15-8 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第15-8部：コネクタ試験（機械的試験）－試験15h：コンタクト保持機構，工具の使用に対する耐久性 JIS C5402-16-20 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第16-20部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験16t：機械的強度（無はんだ接続のターミネーション） JIS C5402-19-3 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第19-3部：耐化学薬品試験－試験19c:耐液性 JIS C5402-20-2 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２０－２部：耐火性試験－試験２０ｂ：耐火性 JIS C5402-23-3 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２３－３部：スクリーニング及びフィルタリング試験－試験２３ｃ：コネクタ及びアクセサリのシールド効果 JIS C5402-23-4 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２３―４部：スクリーニング及びフィルタリング試験―試験２３ｄ：時間領域での伝送線路の反射 JIS C5432 電子機器用丸形Ｒ０１コネクタ JIS C5410 高周波同軸コネクタ通則 JIS C5411 高周波同軸Ｃ０１形コネクタ JIS C5412 高周波同軸Ｃ０２形コネクタ JIS C5413 高周波同軸Ｃ０３形コネクタ JIS C5414 高周波同軸Ｃ０４形コネクタ JIS C5415 高周波同軸Ｃ０５形コネクタ JIS C5419 高周波同軸Ｃ１１形コネクタ JIS C5420 プリント配線板用コネクタ通則 JIS C5441 電子機器用スイッチの試験方法 JIS C5442 制御用小形電磁リレーの試験方法 JIS C5443 電子機器用スイッチ品目別通則 JIS C5444 電子機器用表面実装スイッチの試験方法 JIS C6560 単頭プラグ・ジャック
JIS C5010 プリント配線板通則 JIS C5013 片面及び両面プリント配線板 JIS C5014 多層プリント配線板 JIS C5017 フレキシブルプリント配線板－片面・両面 JIS C6472 フレキシブルプリント配線板用銅張積層板－ポリエステルフィルム，ポリイミドフィルム JIS C6480 プリント配線板用銅張積層板通則 JIS C6482 プリント配線板用銅張積層板―紙基材エポキシ樹脂 JIS C6483 プリント配線板用銅張積層板―合成繊維布基材エポキシ樹脂 JIS C6484 プリント配線板用銅張積層板―ガラス布基材エポキシ樹脂 JIS C6485 プリント配線板用銅張積層板－紙基材フェノール樹脂 JIS C6488 プリント配線板用銅張積層板－耐燃性ガラス布・紙複合基材エポキシ樹脂銅張積層板 JIS C6489 プリント配線板用銅張積層板－耐燃性ガラス布・ガラス不織布複合基材エポキシ樹脂銅張積層板 JIS C6490 プリント配線板用銅張積層板－耐燃性ガラス布基材ポリイミド樹脂 JIS C6492 プリント配線板用銅張積層板－耐燃性ガラス布基材ビスマレイミドトリアジン・エポキシ樹脂 JIS C6493 多層プリント配線板用銅張積層板－耐燃性ガラス布基材ポリイミド樹脂銅張積層板 JIS C6494 多層プリント配線板用銅張積層板－耐燃性ガラス布基材ビスマレイミド／トリアジン／エポキシ樹脂銅張積層板 JIS C6522 多層プリント配線板用プリプレグ―ガラス布基材エポキシ樹脂 JIS C6523 多層プリント配線板用プリプレグ―ガラス布基材ポリイミド樹脂 JIS C6524 多層プリント配線板用プリプレグ―ガラス布基材ビスマレイミド／トリアジン／エポキシ樹脂 JIS C6515 プリント配線板用銅はく
JIS C61191-1 プリント配線板実装─第１部：通則─表面実装及び関連する実装技術を用いた電気機器及び電子機器用はんだ付け実装要求事項 JIS C61191-2 プリント配線板実装─第２部：部門規格─表面実装はんだ付け要求事項 JIS C61191-3 プリント配線板実装─第３部：部門規格─挿入実装はんだ付け要求事項 JIS C61191-4 プリント配線板実装─第４部：部門規格─端子実装はんだ付け要求事項 なお、JISハンドブック『電子Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ』には、参考として以下の資料が付属されています。 1. 電子関係のJIS 及び国際標準化の動き 2. 電子関連JIS 一覧 3. 電子関係団体一覧 4. ISO，IEC が発行する規格・出版物の著作権について（対訳） 主なSI 単位への換算率表 JIS規格リスト一覧に戻る >> 資料館（JISリスト） >> 電子 >> 資料館（JISリスト2） |
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